X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測。

 

X熒光光譜儀在陽光直射的高溫，高日照量的情況下也能保持高性能的特點(diǎn)，這得益于儀器設(shè)計(jì)中充分考慮低功耗及X射線管高溫的及時(shí)排放，所以它可承受惡劣的工作環(huán)境。它的可分析元素可從從鎂礦（Mg）到钚礦（Pu）之間的所有83種自然礦石，包括重金屬礦石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等。對(duì)高品位、精選礦石精確的品位評(píng)定，提供礦石采集、收購價(jià)值依據(jù)，也可對(duì)礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價(jià)值在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進(jìn)行品檢，確定品位，對(duì)濾熔池、存儲(chǔ)塘和鋼槽溶液進(jìn)行分析，快速普查超大范圍的礦區(qū)，有效地測定地帶模式，繪制礦山圖、實(shí)時(shí)勘察現(xiàn)場、快速追蹤礦化異常、有效地尋找“熱點(diǎn)”地帶，圈定礦體邊界有重要作用。而通過對(duì)輸送料、精礦、礦渣進(jìn)行現(xiàn)場分析以確定、跟蹤提煉或者濃縮過程的有效性有很大的保障。

 

X熒光光譜分析儀還可以對(duì)礦場描繪以及品位控制。通過實(shí)時(shí)就地分析多個(gè)樣本，實(shí)現(xiàn)對(duì)開采計(jì)劃進(jìn)行指導(dǎo)，有效地管理挖掘、爆破工作，在現(xiàn)場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質(zhì)成分，以有效控制勘探成本。它也能夠?qū)ΦV石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進(jìn)行快速的金屬元素含量分析。無論是進(jìn)行原地檢測還是非原地檢測，功能強(qiáng)大的計(jì)算軟件能夠自動(dòng)消除由于不同樣品的材質(zhì)差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進(jìn)行檢測，而無需其他任何數(shù)據(jù)輸入或者進(jìn)行再次校準(zhǔn)。根據(jù)對(duì)檢測精度的不同要求，測試時(shí)間僅需數(shù)秒到數(shù)分鐘。

 

此外，X熒光光譜分析儀能夠快速分析礦石樣本、精礦、礦渣的金屬元素成分。允許用戶通過運(yùn)用特殊校正因子來進(jìn)一步提高檢測精度。它對(duì)礦山原場地所采集的礦石樣品可以直接測試，但這會(huì)影響到元素的品位值，因?yàn)樵卦诘V石中的含量分布不均勻，儀器所測試的點(diǎn)不能代表整個(gè)礦石，理想的分析效果要求我們對(duì)礦石樣品進(jìn)行烘干，研磨（160目以上） ，攪拌均勻后再測試，對(duì)于含量幾個(gè)PPM級(jí)的元素，測試時(shí)間長些，相應(yīng)的精度也會(huì)跟著提高。